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日本日置LCR測(cè)試儀3532-50概要： 1.測(cè)試頻率可在42Hz～5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位精確度自由調(diào)整 2.可很容易地測(cè)試被測(cè)物在高頻量程內(nèi)的特性。操作非常簡(jiǎn)便，改變?cè)O(shè)置時(shí)通過觸模屏幕，所需的設(shè)定選項(xiàng)會(huì)順序排列顯示出來 注：輸入用探頭/測(cè)試夾具，實(shí)體不附帶。按照測(cè)量目的，不同型號(hào)有不同的探頭/測(cè)試夾具選件
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