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日本日置 C測(cè)試儀 3506-10 對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試 ● 模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms（1MHz）的高速測(cè)量 ● 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度 ● 1kHz、1MHz測(cè)量下，低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測(cè)量 ● 根據(jù)BIN的測(cè)定區(qū)分容量

日本日置 C測(cè)試儀 3504-40/50/60 封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等 ● 高速測(cè)量2ms ● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷 ● 對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試 ● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試 ● 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率